曼恩斯特公布“锂电涂布极片面密度测量方法、系统及涂布检测设备”专利

天眼查APP显示，近日，深圳市曼恩斯特科技股份有限公司申请的“锂电涂布极片面密度测量方法、系统及涂布检测设备”专利公布。 摘要显示，本发明提供了一种锂电涂布极片面密度测量方法、系统及涂布检测设备，涉及涂布检测技术领域，该方法通过X射线源发射X射线穿透锂电涂布极片，利用探测器分别采集穿透前后的本底能谱与样品能谱，结合涂布层中特征元素（如Li、Co、C等）的衰减系数曲线，并利用本底能谱与样品能谱的均方误差结果进行全能谱拟合，最终得到最优的面密度值，从而解决了现有β射线方案的辐射安全问题以及红外光方案受材料光学特性干扰等问题，实现了对锂电涂布极片面密度的无损、高精度、多元素同时测量。 （：贺